引起
氣相色譜儀定量不重復(fù)的原因是多方面的,一般可以回結(jié)為兩大類:一類為單純性靈敏度變化型,即除了定量重復(fù)性分歧格外,其它指標(biāo)未發(fā)現(xiàn)異常;另一類為伴隨性靈敏度變化型,即除靈敏度變化之外還伴隨有其它異常現(xiàn)象出現(xiàn),包括基線不穩(wěn)定性、峰保存時間變化及產(chǎn)生峰形畸變等異?,F(xiàn)象。屬于*類型故障的原因,主要是:進樣技術(shù)不佳,注射器有堵漏,樣品制備不均勻,進樣口污染物堆積以及氣路存在漏氣現(xiàn)象等。屬于第二類型故障的原因,主要是:載氣流量變化,檢測器玷污、過載,柱溫變化以及檢測器操縱條件(如氫氣、極化電壓、脈沖電壓等)發(fā)生變化。
考慮到各種故障產(chǎn)生可能性的大小以及故障鑒別的方便性,制定出下述檢測方案:
(1)注射器檢查:操縱職員進樣技術(shù)進步后,色譜峰靈敏度仍然無明顯改觀,需認(rèn)真檢查注射器本身是否有堵塞或泄漏現(xiàn)象。必要時更換一個好的注射器重新進樣試驗。
(2)進樣口污染及系統(tǒng)漏氣檢查:關(guān)斷橋電流(對TCD而言)后,取下進樣口隔墊,觀察進樣口內(nèi)是否有污染或堆積物,假如有,需進行清除和清洗。清洗完畢裝上隔墊后需對氣路系統(tǒng)進行試漏:堵住檢測器出口,觀察轉(zhuǎn)子流量計中的轉(zhuǎn)子應(yīng)能下降為零,否則說明氣路有泄漏。在確信進樣口無嚴(yán)重污染及氣路無漏氣的情況下進行
(3)進樣技術(shù)檢查:進樣技術(shù)不佳是造成色譜峰不重復(fù)的zui可能原因。它通常表現(xiàn)為峰高/峰面積忽大忽小,峰高/峰面積大小變化無規(guī)則。進步進樣重復(fù)性的關(guān)鍵,在于始終保持進樣操縱各個步驟的重復(fù)性。這包括取樣操縱,取樣到進樣期間的空閑時間,進針快慢及拔出注射器的早晚。通常操縱職員在經(jīng)過較多地進樣重復(fù)性練習(xí)之后,可以達(dá)到所需的要求。
(4)伴隨現(xiàn)象觀察:在檢查靈敏度情況的同時留意是否有下述異?,F(xiàn)象發(fā)生,包括基線是否穩(wěn)定,出峰保存時間是否重復(fù),峰形是否有畸變?nèi)N情況,假如出現(xiàn)其中一種,應(yīng)先按所出現(xiàn)的故障進行排除,再重新進行定量重復(fù)性測試。沒發(fā)現(xiàn)伴隨異常現(xiàn)象時,應(yīng)轉(zhuǎn)進下面的檢查步驟。
(5)樣品均勻性檢查:制備的樣品在樣品瓶中混合不均勻或每次取樣時注射器對樣品產(chǎn)生玷污以及樣品揮發(fā)等都會影響出峰靈敏度的重復(fù)性(不能漏過此項檢查)。定量不重復(fù)由上述三種原因引起的可能性很大,而且都和進樣操縱密切相關(guān),因此可一起進行檢查。只有在上述檢查后無異常發(fā)現(xiàn)時才轉(zhuǎn)進接下的檢查步驟。
(6)特種原因檢查:對有些檢測器而言,某些原因所伴隨的故障異常不太明顯,易被忽略掉,因此應(yīng)按照此項進行檢查,以便不漏過可能發(fā)生故障的因素。
a)對FID來說,極化電壓較低及氫氣流量不穩(wěn),有可能導(dǎo)致靈敏度變化而無其它明顯異常。對此可首先測試極化電壓大小以確定極化電壓是否太低,過低的極化電壓以及無極化電壓都屬于故障。正常時極化電壓為150~300V。如極化電壓正常,則應(yīng)轉(zhuǎn)進放大器的靈敏檔觀察氫焰基始電流的變動情況,在氫氣流不穩(wěn)定時基流應(yīng)能呈現(xiàn)出擺動和漂移現(xiàn)象。
b)對于任何檢測器,樣品中的某些組分在檢測器中逐漸冷凝并累積,將會影響下一次進樣后的靈敏度,情況嚴(yán)重時還會造成氣路堵塞。通常的解決方法也是適當(dāng)進步檢測器的溫度,以減少或消除樣品室的冷凝現(xiàn)象。